Выпуски журналаIssues of the journal
К списку номеров Back to the list К оглавлению Back to Contents номер страницы: 45page number: 45ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ ПОВЕРХНОСТЕЙ ПОКРЫТИЙ, ПОЛУЧЕННЫХ ЭЛЕКТРОИСКРОВЫМ ЛЕГИРОВАНИЕМ
Резюме:
Resume:
Методом сканирующей туннельной микроскопии исследованы поверхности электроискровых покрытий Си, Nb, Та и W на стали 45. Установлено, что все покрытия, независимо от легирующего металла, имеют развитую поверхность. На поверхности покрытий наблюдались участки, содержащие выступы размером 20-300 нм, относительно ровные участки и участки с малыми выступами ~5 нм или их скоплениями. Наибольшее разнообразие морфологических особенностей характерно для медного покрытия, наименьшее — для вольфрамового. №1 – 2000 г.
Авторы:
Authors:
В.Г.Курявый, Д.Л.Ягодзинский, А.Д.Верхотуров, В.М.Бузник